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基于超声波的物体缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 

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申请/专利权人:衡阳镭目科技有限责任公司

摘要:本申请涉及一种基于超声波的物体缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:确定待检物的多次底波对应的起始时间和结束时间,其中,底波是指对待检物进行超声波探测时,从待检物的底部反射回来的超声波信号,根据起始时间、结束时间及预设的信号幅度阈值,计算待检物的多次叠加波宽度,根据多次叠加波宽度及预设值的大小关系,判断待检物是否存在缺陷。本申请可以提高对待检物表面缺陷检测的准确率。

主权项:1.一种基于超声波的物体缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:确定待检物的多次底波对应的起始时间和结束时间,其中,所述底波是指对待检物进行超声波探测时,从所述待检物的底部反射回来的超声波信号;根据所述起始时间、所述结束时间及预设的信号幅度阈值,计算所述待检物的多次叠加波宽度,其中,所述叠加波宽度表征待检物的缺陷波与底波所形成的叠加波的宽度;根据多次叠加波宽度及预设值的大小关系,判断所述待检物是否存在缺陷;其中,所述根据多次叠加波宽度及预设值的大小关系,判断所述待检物是否存在缺陷,包括:判断所述多次叠加波宽度是否均在预设宽度范围值之内;若是,通过第一窗口值对所述多次叠加波宽度进行平滑操作,得到第一平滑值;通过第二窗口值对所述多次叠加波宽度进行平滑操作,得到第二平滑值,其中,所述第一窗口值大于所述第二窗口值;根据所述第一平滑值与所述第二平滑值的差值,判断所述待检物是否存在缺陷。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 衡阳镭目科技有限责任公司 基于超声波的物体缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

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