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申请/专利权人：华帝股份有限公司
摘要：本发明公开了一种兼容检测电路及其过零检测、门检测和掉电记忆检测方法，其中，兼容检测电路包括光耦检测模块根据二极管开关模块的打开和关闭输出高、低电平至控制模块，所述控制模块根据光耦检测模块的高、低电平获取脉冲波形以用于进行过零检测、门检测和掉电记忆检测。本发明的一种兼容检测电路，通过光耦检测模块根据二极管开关模块的打开和关闭输出高、低电平至控制模块，所述控制模块根据光耦检测模块的高、低电平获取脉冲波形以用于进行过零检测、门检测和掉电记忆检测，从而只占用MCU一个AD口资源，只有一路电路，即可同时进行零检测、门检测和掉电记忆检测，节省元器件，降低成本，节省PCB排布空间。
主权项：1.一种兼容检测电路，其特征在于，包括二极管开关模块、光耦检测模块和控制模块，所述光耦检测模块电连接二极管开关模块和控制模块，所述光耦检测模块根据二极管开关模块的打开和关闭输出高、低电平至控制模块，所述控制模块根据光耦检测模块的高、低电平获取脉冲波形以用于进行过零检测、门检测和掉电记忆检测；所述二极管开关模块包括第五二极管D5、第六二极管D6、第七二极管D7、第八二极管D8和开关K2，所述第五二极管D5的阳极并联火线和开关K2的一端，所述开关K2的另一端连接第七二极管D7的阴极，所述第七二极管D7的阳极连接第八二极管D8的阳极，所述第八二极管D8的阴极并联零线和第六二极管D6的阳极，所述第六二极管D6的阴极连接第五二极管D5的阴极。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华帝股份有限公司 兼容检测电路及其过零检测、门检测和掉电记忆检测方法
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