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申请/专利权人：株式会社日立高新技术

申请日：2020-03-10

公开（公告）日：2024-10-11

公开（公告）号：CN113574390B

专利技术分类：

专利摘要：本发明提供一种提升自动分析系统中的测量数据从回归线的背离判别的精度的技术。本公开的数据解析系统具有：多个第一计算机，其在画面上显示自动分析部使试样与试剂反应而得到的测量数据；以及第二计算机，其对从多个第一计算机分别取得的测量数据进行解析，将解析结果发送到多个第一计算机，第二计算机执行以下处理：取得包含针对自动分析部的信息以及针对试剂的信息和它们所对应的测量数据在内的参考数据；根据参考数据，生成综合回归线信息，所述综合回归线信息能够共同应用于与针对自动分析部的信息以及针对试剂的信息相关联的多个自动分析部；以及将综合回归线信息发送到第一计算机，第一计算机执行以下处理：取得从第二计算机发送的综合回归线信息，显示在画面上。

专利权项：1.一种数据解析方法，其特征在于，多个第一计算机分别取得在1个以上的自动分析部中使试样与试剂反应而得的测量数据，与所述多个第一计算机连接的第二计算机对从所述多个第一计算机分别取得的所述测量数据进行解析，生成解析结果，在生成所述解析结果时，所述第二计算机执行以下处理：取得参考数据的处理，所述参考数据包含针对所述自动分析部的信息以及针对所述试剂的信息和它们所对应的所述测量数据；根据所述参考数据，以针对所述自动分析部的信息以及针对所述试剂的信息为单位，生成综合背离判别线信息的处理，所述综合背离判别线信息能够共同应用于与针对所述自动分析部的信息以及针对所述试剂的信息相关联的多个自动分析部，该生成综合背离判别线信息的处理包括：取得蓄积结束的所述参考数据的评价参数；执行回归式基准值计算，以回归式来表现所述评价参数的组合中的分布；通过数学式 执行AIC计算，用于计算在回归式基准值计算处理中计算出的多种回归式中选择最佳回归式的指标数据，其中，P是回归式的系数的个数，n是数据个数；在针对全部回归式计算了回归式基准值的情况下，将全部回归式的AIC进行比较，选择AIC最小的回归式作为最佳回归式；在最佳回归式中使用作为背离判别对象的反应过程数据的评价参数的值，计算综合背离判别线的上下限的基准范围；所述第二计算机执行以下处理：根据在与所述第一计算机连接的所述自动分析部中是否存在与针对所述自动分析部的信息对应的自动分析部，以及在与所述第一计算机连接的所述自动分析部中是否正在使用与针对所述试剂的信息对应的试剂批号来判断是否应发送生成的所述综合背离判别线信息，并且，在判断为应发送时将所述综合背离判别线信息发送到所述第一计算机，所述多个第一计算机执行以下处理：取得从所述第二计算机发送的所述综合背离判别线信息，根据对应的自动分析部的测量数据生成该自动分析部固有的背离判别线信息，将由所述第二计算机生成的所述综合背离判别线信息和所述自动分析部单体的单体背离判别线信息显示在各自的显示画面上。

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