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申请/专利权人：牛津楠路珀尔科技股份有限公司
摘要：提供了一种在聚合物相对于纳米孔易位期间对从所述聚合物获取的一系列测量结果进行分析的方法、一种分析系统以及一种纳米孔测量和分析系统。所述聚合物包括一系列聚合物单元，所述方法包括：在所述一系列测量结果的连续窗口中对连续测量结果执行卷积，以导出关于每个窗口的特征向量；以及使用递归神经网络对所述特征向量进行操作以导出关于所述一系列聚合物单元的信息。
主权项：1.一种在聚合物相对于纳米孔易位期间对从所述聚合物获取的一系列测量结果进行分析的方法，所述聚合物包括一系列聚合物单元，所述方法包括：在所述一系列测量结果的连续窗口中对连续测量结果执行卷积，以导出关于每个窗口的特征向量；以及使用递归神经网络对所述特征向量进行操作以导出关于所述一系列聚合物单元的信息。
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百度查询： 牛津楠路珀尔科技股份有限公司 分析方法、分析系统以及纳米孔测量和分析系统
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