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一种集成运算放大器的通用自动化测试系统 

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申请/专利权人:昇陌微电子(苏州)有限公司

摘要:本发明公开了一种集成运算放大器的通用自动化测试系统,包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构,测试电路板包括测试主电路和下位机结构,测试主电路连接待测芯片对其进行测试。上位机结构中DC电源模块连接测试主电路用于向其供电,源表和信号发生器连接测试主电路用于向其提供电压和电流信号,数字IO模块通过下位机结构连接测试主电路用于将提供的数字信号经过下位机结构,再由下位机结构控制测试主电路选择待测芯片的性能测试项目,测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给PC机。本发明实现集成运算放大器芯片测试项目的自动加载、测试信号的智能发送和接收、以及结果的自动处理和存储,极大提高了测试效率和准确性。

主权项:1.一种集成运算放大器的通用自动化测试系统,其特征在于:包括上位机结构、测试电路板和辅助仪表结构,所述上位机结构包括PC机以及与其连接的DC电源模块、信号发生器、源表和数字IO模块,所述测试电路板包括测试主电路和下位机结构,所述下位机结构包括达林顿晶体管阵列、电平转换器和逻辑译码器,所述测试主电路连接待测芯片对其进行测试;所述DC电源模块连接所述测试主电路用于向其供电,所述源表和信号发生器连接所述测试主电路用于向其提供电压和电流信号,所述数字IO模块通过所述下位机结构连接所述测试主电路,用于将提供的数字信号经过所述下位机结构,由所述下位机结构控制所述测试主电路选择所述待测芯片的性能测试项目,所述测试主电路的输出信号再通过辅助仪表结构采集送给所述PC机。

全文数据:

权利要求:

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