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申请/专利权人：高通股份有限公司
摘要：本公开的一方面涉及一种集成电路IC。该IC包括：第一组测试时钟控制器TCC，该第一组测试时钟控制器TCC分别包括第一组时钟输出端；和第一组功能核，该第一组功能核包括分别耦合到该第一组TCC的该第一组时钟输出端的第一组时钟输入端。
主权项：1.一种集成电路IC，所述集成电路IC包括：第一组测试时钟控制器TCC，所述第一组测试时钟控制器TCC分别包括第一组时钟输出端；和第一组功能核，所述第一组功能核包括分别耦合到所述第一组TCC的所述第一组时钟输出端的第一组时钟输入端。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 高通股份有限公司 集成功能和可测试性设计（dft）时钟递送架构
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