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申请/专利权人：杭州傲芯科技有限公司
摘要：本发明提供的一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法，通过引脚复用的方式将芯片引脚的划分为工作模式和测试模式，且在电路中设置了模式切换模块，模式切换模块通过识别输入的测试控制信号来实现两种模式之间的切换，其中测试模式下还设有测试向量读取模式，且将测试向量读取模式的识别测试控制信号设置为负电压信号，可避免客户在使用过程中误触发测试向量读取模式。存储模块中采用移位读取的方式进行测试向量的读取和存储，提高了测试向量的稳定性；同时还设有移位控制模块，用于控制寄存器是否进行测试向量移位读取功能，增强了测试向量的完整性，减小了用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路的在芯片中的占用面积。
主权项：1.一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路，其特征在于，包括：模式切换模块，时钟模块，存储模块、移位控制模块；模式切换模块，输入端判断输入的测试控制信号的电压大小是否在测试模式对应的电压阈值范围内，来控制是否进入测试向量读取模式；时钟模块，包括三个输入端，一个输入端连接于模式切换模块的输出端，一个输入端接收外部测试时钟信号，另一个输入端连接于存储模块的输出端；时钟模块根据模式切换模块的输出信号和外部测试时钟信号来产生内部时钟信号，其作为存储模块和移位控制模块的时钟信号，且时钟模块根据存储模块的输出信号控制存储模块是否停止读取；存储模块，包括至少一个寄存器，所述寄存器相互串联且输入端接收测试向量，所述寄存器依次读取和存储测试向量，并将存储的测试向量通过输出端输出；移位控制模块，包括移位控制器，其输入端接收测试向量，时钟信号端连接于时钟模块的输出端，输出端连接存储模块中除首位寄存器外的其他寄存器的使能端；移位控制模块根据时钟模块输出的内部时钟信号以及测试向量，控制对应寄存器是否移位。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州傲芯科技有限公司 一种用于芯片DFT的高可靠性测试向量读取电路及方法
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