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申请/专利权人：圣邦微电子(北京)股份有限公司

摘要：本发明涉及电阻测量技术领域，提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法，用于测量两个被测电阻的电阻差值，该电阻测试电路包括：分压模块，包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻、第一待测电阻和第二待测电阻；第一测试模块，根据该标准电阻两端的电压生成第一测试电压；第二测试模块，根据该第一待测电阻两端的电压和该第二待测电阻两端的电压生成第二测试电压，其中，该第二测试电压表征该第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值，该电阻测试电路根据该标准电阻的阻值、该第一测试电压和该第二测试电压获得第一待测电阻和第二待测电阻的电阻差值。由此提高了可实现两个被测电阻差值测量的电路的测量精度及该电路的可靠性。

主权项：1.一种电阻测试电路，用于测量两个被测电阻的电阻差值，其特征在于，所述电阻测试电路包括：分压模块，包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻、第一待测电阻和第二待测电阻；第一测试模块，其输入端连接所述标准电阻的两端形成第一路径，根据所述标准电阻两端的电压生成第一测试电压，所述第一测试模块包括第一放大器；第二测试模块，其输入端分别连接在所述第一待测电阻的两端和所述第二待测电阻的两端，根据所述第一待测电阻两端的电压和所述第二待测电阻两端的电压生成第二测试电压，其中，所述第二测试模块包括：第一测试单元，其输入端连接所述第一待测电阻的两端形成第二路径，根据所述第一待测电阻两端的电压生成第三测试电压，所述第一测试单元包括第三放大器；第二测试单元，其输入端连接所述第二待测电阻的两端形成第三路径，根据所述第二待测电阻两端的电压生成第四测试电压，所述第二测试单元包括第四放大器；第三测试单元，其输入端分别连接所述第一测试单元的输出端和所述第二测试单元的输出端，根据所述第三测试电压和所述第四测试电压生成所述第二测试电压，所述第三测试单元包括第二放大器，所述第二测试电压表征所述第一待测电阻和所述第二待测电阻的电阻差值，所述电阻测试电路根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压和所述第二测试电压获得所述第一待测电阻和所述第二待测电阻的电阻差值，所述第一放大器、所述第三放大器和所述第四放大器三者各自的放大增益值相同，所述第一待测电阻和所述第二待测电阻的电阻差值为：，R1为所述标准电阻的阻值，R2为所述第一待测电阻的阻值，R3为所述第二待测电阻的阻值，V1为所述第一放大器的输出电压，V2为所述第二放大器的输出电压，G2是所述第二放大器的电压增益值。

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