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电阻测试电路及电阻测试方法 

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申请/专利权人:圣邦微电子(北京)股份有限公司

摘要:本发明涉及电阻测量技术领域,提供了一种电阻测试电路及电阻测试方法,该电阻测试电路包括:分压模块,包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻和待测电阻;第一测试模块,根据标准电阻两端的电压生成第一测试电压;第二测试模块,根据待测电阻两端的电压生成第二测试电压;第三测试模块,其输入端分别连接第一测试模块的输出端和第二测试模块的输出端,根据该第一测试电压和该第二测试电压生成第三测试电压,其中,所述电阻测试电路根据该标准电阻的阻值、该第一测试电压和该第三测试电压获得被测电阻的阻值。由此可以提高电阻测试电路的测试精度以及满足可靠性要求。

主权项:1.一种电阻测试电路,用于测量被测电阻的阻值,其特征在于,所述电阻测试电路包括:分压模块,包括串联于供电端与地之间的电流源、标准电阻和待测电阻;第一测试模块,其输入端连接所述标准电阻的两端形成第一路径,用于根据所述标准电阻两端的电压生成第一测试电压,所述第一测试模块包括第一放大器;第二测试模块,其输入端连接所述待测电阻的两端形成第二路径,用于根据所述待测电阻两端的电压生成第二测试电压,所述第二测试模块包括第二放大器;第三测试模块,其输入端分别连接所述第一测试模块的输出端和所述第二测试模块的输出端,用于根据所述第一测试电压和所述第二测试电压生成第三测试电压,所述第三测试模块包括第三放大器,其中,所述电流源用以提供测试电流,所述电阻测试电路根据所述标准电阻的阻值、所述第一测试电压和所述第三测试电压获得所述被测电阻的阻值为: ,R1为所述标准电阻的阻值,R2为所述待测电阻的阻值,V1为所述第一放大器的输出电压,V3为所述第三放大器的输出电压,G3是所述第三放大器的电压增益值,所述第一放大器和所述第二放大器的放大增益值相同。

全文数据:

权利要求:

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