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申请/专利权人：季华实验室
摘要：本申请涉及一种单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质，其涉及单光子探测技术领域，方法包括：获取事件刷新时数转换器中待测量单光子探测器在同一波长的每个光脉冲作用下产生的时间间隔数据，计算确定时间间隔数据落入预设的统计直方图的统计子区间的概率密度，以确定待测量单光子探测器在每个光脉冲照射下的时域光子概率分布；采用预设的光电子计数模型对时域光子概率分布进行拟合，以确定待测量单光子探测器在单个光脉冲作用下探测到的平均光电子数；基于平均入射光子数以及平均光电子数确定待测量单光子探测器的探测效率，以完成单光子探测器探测效率的测量。本申请极大地提高了测量效率的同时，显著提高了探测效率谱的测量精度。
主权项：1.一种单光子探测器探测效率测量方法，其特征在于，包括：响应单光子探测器探测效率测量指令，获得定标测量过程中单色发光二极管阵列中的每个单色发光二极管照射下第一校准光电二极管以及第二校准光电二极管的光功率，以确定每个单色发光二极管的定标系数；根据所述定标系数、待测量单光子探测器的光敏面积、所述第二校准光电二极管的光敏面积以及所述待测量单光子探测器的探测效率测量过程中第一校准光电二极管的光功率，计算确定每个单色发光二极管照射到待测量单光子探测器光敏区域上的平均入射光子数；获取事件刷新时数转换器中所述待测量单光子探测器在同一波长的每个光脉冲作用下产生的时间间隔数据，计算确定所述时间间隔数据落入预设的统计直方图的统计子区间的概率密度，以确定所述待测量单光子探测器在每个光脉冲照射下的时域光子概率分布；采用预设的光电子计数模型对所述时域光子概率分布进行拟合，以确定所述待测量单光子探测器在单个光脉冲作用下探测到的平均光电子数；基于所述平均入射光子数以及所述平均光电子数确定所述待测量单光子探测器的探测效率，以完成单光子探测器探测效率的测量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 季华实验室 单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质
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