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一种薄膜样品紫外测试皿装置 

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申请/专利权人:蚌埠学院

摘要:本发明提供一种薄膜样品紫外测试皿装置,它包括主体(1),其特征在于:在主体(1)上设有支架(2),在支架(2)上设有滑槽(3),在滑槽(3)内设有滑块(4),在滑块(4)上穿设有对应配合的丝杆(5),丝杆(5)上连接有连杆(6),在连杆(6)上设有薄膜样品放置框(7)。本发明结构简单,使用方便,结构合理可靠,可准确测试样品的光谱数据。

主权项:1.一种薄膜样品紫外测试皿装置,它包括桶状的主体(1),其特征在于:在主体(1)上设有支架(2),在支架(2)上设有滑槽(3),在滑槽(3)内设有滑块(4),在滑块(4)上穿设有对应配合的丝杆(5),丝杆(5)一端上连接有连杆(6),在连杆(6)上设有薄膜样品放置框(7);所述的支架(2)包括与主体(1)上端形成卡接配合的底板(2a),在底板(2a)上设有一组与主体(1)内壁对应配合的限位块(2b),在底板(2a)上设有门架(2c),在所述的滑槽(3)设置在门架(2c)上的横梁上,在门架(2c)一侧设置纵向的槽体(2d),在槽体(2d)内设有对应配合的纵向滑块(2h),在纵向滑块(2h)上穿设有第二丝杆(2e),在第二丝杆(2e)一端与连杆(6)连接配合;在所述第二丝杆(2e)和丝杆(5)的另一端均设有手持部(10);在所述滑槽(3)的侧壁上设有刻度线(2t),在滑块(4)上设有对应配合的锁紧螺钉(9),在滑槽(3)的侧壁上还设有与锁紧螺钉(9)对应配合的长条孔;所述的薄膜样品放置框(7)包括载物片,在载物片上卡合有对应配合的盖物片(7a),在载物片和盖物片(7a)上设有对应配合的对位磁块(7b),在载物片和盖物片(7a)上还设有对应配合的螺钉安装孔(7b);所述的载物片和盖物片(7a)均包括框体(x),在框体(x)上内嵌有石英玻璃片(y)。

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权利要求:

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