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申请/专利权人：上海频准激光科技有限公司

摘要：本发明涉及光学技术领域，尤其涉及一种光束质量检测方法、装置、电子设备及介质，包括根据重构模型获取到第一光斑直径集合和第二光斑直径，拟合得到初始轮廓曲线并获取到第二采集距离对应的预测光斑直径，根据第二光斑直径和预测光斑直径的比较结果更新第一光斑图像集合，直至获取到目标轮廓曲线，以得到待检测激光的质量等级，通过重构模型消除图像采集过程中干扰因素的影响，并基于拟合圆图像获取准确性更高的光斑直径，进一步通过预测光斑直径与对应的真实的光斑直径之间的比较结果，不断在第一光斑图像集合和第一采集距离集合中添加新的光斑图像和对应的采集距离信息，提高了目标轮廓曲线的准确性，从而提高了光束质量检测结果的准确性。

主权项：1.一种光束质量检测方法，其特征在于，所述光束质量检测方法包括：S100，获取到图像采集模块采集到的第一光斑图像集合TX0＝{TX01，TX02，……，TX0μ，……，TX0γ}和第二光斑图像TX1，以及TX0对应的第一采集距离集合JL＝{JL1，JL2，……，JLμ，……，JLγ}和TX1对应的第二采集距离JL1，其中，TX0μ是指第μ个第一光斑图像，JLμ是指采集TX0μ时所述图像采集模块与待检测激光器之间的距离，JL1是指采集TX1时所述图像采集模块与所述待检测激光器之间的距离，μ＝1，2，……，γ，γ是指第一光斑图像的总数量；S200，将TX0和TX1输入至训练好的重构模型中，获取到TX0对应的第一拟合圆图像集合NH＝{NH1，NH2，……，NHμ，……，NHγ}和TX1对应的第二拟合圆图像NH1，其中，TX0μ对应的第一拟合圆图像NHμ是通过将TX0μ输入至所述重构模型中得到的，NH1是通过将TX1输入至所述重构模型中得到的；S300，根据NH和NH1，获取到TX0对应的第一光斑直径集合ZJ＝{ZJ1，ZJ2，……，ZJμ，……，ZJγ}和TX1对应的第二光斑直径，其中，ZJμ是指TX0μ对应的第一光斑直径；S400，根据JL和ZJ，拟合得到所述待检测激光器输出的待检测激光的初始轮廓曲线；S500，根据JL1和所述初始轮廓曲线，获取到JL1对应的预测光斑直径JL0；S600，若JL0＝JL1，则确定所述初始轮廓曲线为所述待检测激光对应的目标轮廓曲线；S700，若JL0≠JL1，则获取所述图像采集模块采集到的第三光斑图像TX2和TX2对应的第三采集距离JL2；S800，将TX2添加至TX0中，将JL2添加至JL中，得到第一光斑图像更新集合TX3＝{TX01，TX02，……，TX0μ，……，TX0γ，TX2}和第一采集距离更新集合JL3＝{JL1，JL2，……，JLμ，……，JLγ，JL2}，并更新TX0＝TX3，更新JL＝JL3，重复执行步骤S200-S800，直至获取到所述待检测激光对应的目标轮廓曲线；S900，根据所述目标轮廓曲线，获取到所述待检测激光的质量等级。

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