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申请/专利权人：武汉工程大学

摘要：本发明涉及半导体电子器件技术领域，具体涉及一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括底座和测试组件，测试组件包括多个夹持单元、第一气缸、升降筒、检测单元和两个皮带输送机，夹持单元包括固定块、弹簧、夹持块、伸缩杆、连接杆和拨动杆，底座具有凹槽，半导体光电子器件安放在底座上方，第一气缸带动升降筒上移，将多个拨动杆相对移动，通过连接杆带动对应的夹持块移动，将半导体光电子器件固定，检测单元进行半导体光电子器件测试，第一气缸带动升降筒下移，同时弹簧回弹，伸缩杆跟随伸缩，提高稳定性，带动夹持块复位，由此无需人工手动操作来固定半导体光电子器件，可进行自动固定及测试，有效提高测试效率。

主权项：1.一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括底座，其特征在于，还包括测试组件；所述测试组件包括多个夹持单元、第一气缸、升降筒、检测单元和两个皮带输送机，多个所述夹持单元依次设置于所述底座的上方，所述第一气缸与所述底座固定连接，并位于所述底座的内部，所述第一气缸的输出端与所述升降筒固定连接，所述检测单元设置于所述底座的一侧，两个所述皮带输送机对称设置于所述底座的两端；所述夹持单元包括固定块、弹簧、夹持块、伸缩杆、连接杆和拨动杆，所述固定块与所述底座固定连接，并位于所述底座的上方，所述弹簧的两端分别与所述固定块和所述夹持块活动连接，所述伸缩杆的两端分别与所述固定块和所述夹持块固定连接，所述弹簧套设在所述伸缩杆的外部，所述底座具有凹槽，所述连接杆的一端与所述夹持块固定连接，并位于所述夹持块的下方，所述连接杆的另一端贯穿所述凹槽，并与所述拨动杆固定连接，所述拨动杆远离所述连接杆的一端位于所述升降筒的内部；所述第一气缸启动，带动所述升降筒上移，所述升降筒与多个所述拨动杆接触，将多个所述拨动杆相对移动，通过所述连接杆带动对应的所述夹持块移动，将所述底座上方的半导体光电子器件夹持固定，然后所述检测单元进行半导体光电子器件测试，结束后所述第一气缸带动所述升降筒下移，所述拨动杆脱离所述升降筒，同时所述弹簧回弹，所述伸缩杆跟随伸缩，带动所述夹持块复位；所述检测单元包括支架、第二气缸和检测器；所述具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置还包括安放取料组件，所述安放取料组件设置于所述底座远离所述支架的一侧；所述安放取料组件包括L形板、横向滑动单元、第三气缸、支撑块、第四气缸、固定板、U形块、真空抽气机和吸盘，所述L形板与所述底座固定连接，并位于所述底座远离所述支架的一侧，所述横向滑动单元设置于所述L形板上，所述第三气缸设置于所述横向滑动单元上，所述支撑块与所述第三气缸的输出端固定连接，所述第四气缸与所述支撑块固定连接，并位于所述支撑块的上方，所述第四气缸的输出端贯穿所述支撑块，并与所述固定板固定连接，所述U形块与所述固定板固定连接，并位于所述固定板的下方，所述真空抽气机与所述U形块固定连接，并位于所述U形块的上方，所述真空抽气机的输出端贯穿所述U形块，并与所述吸盘连通；所述横向滑动单元带动所述第三气缸移动至未检测的半导体光电子器件上方，所述第四气缸启动，所述吸盘与半导体光电子器件接触，所述真空抽气机将所述吸盘内部气体抽空，所述吸盘将半导体光电子器件吸住，然后上移，所述横向滑动单元带动所述吸盘和半导体光电子器件横向移动，位于在所述底座的上方后，所述真空抽气机关闭，半导体光电子器件安放在所述底座上，然后进行测试操作。

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