首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

申请/专利权人:中国科学院上海技术物理研究所

摘要:本发明公开了一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法,涉及成像光谱仪技术领域。方法包括基于预选的特征曝光参数Pnλ′,获取特征波长λ′对应的光谱图像数据;计算获取到特征波长λ′的光谱图像的均值比较均值与设定的阈值DN′λ',输出最优曝光参数序列对应的序号n;基于最优曝光参数序列En中所有探测波长对应的曝光参数Pnλ对各探测波长λ进行成像探测,获取各探测波长λ的光谱图像,完成成像光谱自适应曝光操作。系统包括自适应曝光参数调控模块、光学器件、分光器件与探测器。本发明与常规成像光谱自动曝光方法相比提升了光谱采集速度,简化了定标步骤,降低了定标难度,确保了获取的光谱数据的定量化精度。

主权项:1.一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、基于预选的特征曝光参数Pnλ′,获取特征波长λ′对应的光谱图像数据,其中,特征曝光参数Pnλ′为曝光参数序列集合E中对应特征波长λ′的曝光参数,而曝光参数序列集合E中共包含k个曝光参数序列,每个曝光参数序列中都包含了对应全部探测波长的曝光参数Pnλ;步骤S2、计算获取到的特征波长λ′的光谱图像的数字量化值DN对应的均值比较均值与设定的阈值DN′λ',根据比较结果,输出适合当前探测场景的最优曝光参数序列En对应的序号n,其中,最优曝光探测序列En的判断条件为:均值和阈值DN′λ'之间差值的绝对值等于极小值;极小值的计算过程为:基于当前采用的曝光参数序号为n,得到的均值与阈值DN′λ'之间的差值为DNdiff,极小值指的是曝光参数序号为n+1时的差值DNdiff与曝光参数序号为n-1时的差值DNdiff都比当前曝光参数序号为n时的差值DNdiff大,即认为当前曝光参数序号为n时的差值DNdiff为极小值;步骤S3、基于最优曝光参数序列En中所有探测波长对应的曝光参数Pnλ对各探测波长λ进行成像探测,获取各探测波长λ的光谱图像,完成成像光谱自适应曝光操作。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院上海技术物理研究所 一种基于曝光参数序列的成像光谱自适应曝光系统与方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。