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基于在位显微镜的对刀方法 

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申请/专利权人:江西联创电子有限公司;北京理工大学

摘要:本发明提供了一种基于在位显微镜的对刀方法,其具有快速、准确、低成本和操作简便等优点。具体的,通过车削工件形成第一平面,并通过在位显微镜测量第一平面的中心残留物的第一半径与第二半径,可以确定刀具在第二轴的位置误差,进而实现第二轴方向的对刀。通过在工件的第二平面车削圆槽,并通过在位显微镜采集圆槽的表面图像并测量圆槽的半径,可以确定刀具在第一轴的位置误差,进而实现第二轴方向的对刀。通过车削工件形成第三平面,并将完成第三平面车削时的刀具的第三轴坐标作为所述刀具定位原点的第三轴坐标,可以实现第三轴方向的对刀。

主权项:1.一种基于在位显微镜的对刀方法,包括:将工件装夹于机床;车削所述工件,在所述工件上形成第一平面,其中,所述工件可相对于刀具沿机床的第一轴进给并绕第三轴旋转,所述刀具可相对于工件沿机床的第三轴进给;调节所述显微镜的焦平面与第一平面重合,以通过所述显微镜测量第一平面的中心残留物的第一半径;沿着远离所述第一平面的方向调节所述显微镜的焦平面,测量所述中心残留物的第二半径;和根据所述中心残留物的第一半径和第二半径,修正刀具定位原点的第二轴坐标;其中,所述第一轴、所述第二轴和所述第三轴相互垂直。

全文数据:

权利要求:

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