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申请/专利权人：长春理工大学
摘要：本发明公开一种量子点粒径测量方法、系统、设备及存储介质，涉及量子点粒径测量技术领域，该方法包括：获取待测物体的量子点颗粒图像；对量子点颗粒图像进行膨胀与腐蚀操作，使量子点颗粒图像显现出量子点颗粒区域；采用标记的分水岭算法分割量子点颗粒图像上相邻的量子点颗粒区域；提取分割后量子点颗粒图像中的量子点轮廓；对提取的量子点轮廓进行分析，得到量子点的数量和颗粒尺寸；该方法显著提高了数据处理速度，规避了人工测量的速度缺陷，避免了人为误差。
主权项：1.一种量子点粒径测量方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待测物体的量子点颗粒图像；对量子点颗粒图像进行膨胀与腐蚀操作，使量子点颗粒图像显现出量子点颗粒区域；采用标记的分水岭算法分割量子点颗粒图像上相邻的量子点颗粒区域；提取分割后量子点颗粒图像中的量子点轮廓；对提取的量子点轮廓沿边缘像素遍历，将所有连接的边缘像素视为一个量子点的轮廓；将量子点的轮廓像素点近似为多边形，根据Green公式遍历多边形的所有顶点，求取每对顶点之间的乘积差之和并取其绝对值的一半，得到多边形的面积，进而获得量子点粒径的尺寸。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春理工大学 一种量子点粒径测量方法、系统、设备及存储介质
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