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申请/专利权人：英利能源发展有限公司
摘要：本发明公开一种晶体硅光伏组件绝缘距离测试方法，涉及光伏组件性能测试技术领域，包括样品选取、试样制作、绝缘距离测试和结果处理，其中，试样制作包括：裁取合适大小的待测背板样品并粘接在冷镶嵌料制成的子样侧面，采用相同镶嵌材料对粘贴有待测背板样品的子样进行二次镶嵌，得到金相试样；对金相试样进行表面打磨，直到露出清晰的背板层结构；绝缘距离测试包括：将金相试样放在标定后的共聚焦显微镜下测量其中间层厚度。本发明方法能够有效模拟光伏组件的实际使用环境，通过绝缘距离变化判定晶体硅光伏组件在使用过程中的风险；能够有效检测出成品光伏组件的背板绝缘层的电气绝缘性能，为光伏组件在实际使用场景下的性能提供重要参考。
主权项：1.一种晶体硅光伏组件绝缘距离测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、样品选取：在光伏组件的背板面上n个不同位置区域分别截取两份不同厚度的待测背板样品；步骤S2、试样制作：裁取合适大小的待测背板样品并粘接在冷镶嵌料制成的子样侧面，采用相同镶嵌材料对粘贴有待测背板样品的子样进行二次镶嵌，得到金相试样；对所述金相试样进行表面打磨，直到露出清晰的背板层结构；步骤S3、绝缘距离测试：将所述金相试样放在标定后的共聚焦显微镜下测量所述待测背板样品的中间层厚度，并记录数据为JY1深、JY2深……JYn深和JY1浅、JY2浅……JYn浅；步骤S4、结果处理：对所述记录数据进行计算得到JY浅均＝JY1浅+JY2浅+……+JYn浅；根据各所述待测背板样品的中间层厚度与JY浅均的差值判定光伏组件绝缘距离的风险。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 英利能源发展有限公司 一种晶体硅光伏组件绝缘距离测试方法
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