买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:中国计量科学研究院
摘要:本发明公开了一种布拉格衍射效率测量方法及系统,方法包括:调整入射光源装置的射线能量,在晶体与入射光之间夹角为零的状态下,记录标准探测器探测到的射线强度数值;调整晶体与入射光之间的夹角,记录标准探测器探测到的最高射线强度数值;保持晶体与入射光之间的夹角不变,取走晶体,记录标准探测器探测到的数值;由标准探测器探测到的数值来计算晶体的布拉格衍射效率。本发明技术方案提高了实验的精确性和准确性,衍射效率的测量可用于验证实验结果的准确性,提供了一个检验实验条件和数据解释的工具,确保研究的可重复性和可靠性,且推动了晶体衍射效率研究的进展。
主权项:1.一种布拉格衍射效率测量方法,其特征在于,包括步骤:调整入射光源装置的射线能量,在晶体与入射光之间夹角为零的状态下,记录标准探测器探测到的射线强度数值I0;调整晶体与入射光之间的夹角,记录标准探测器探测到的最高射线强度数值Id;保持晶体与入射光之间的夹角不变,取走晶体,记录标准探测器探测到的数值bd;由标准探测器探测到的数值来计算晶体的布拉格衍射效率。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国计量科学研究院 一种布拉格衍射效率测量方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。