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申请/专利权人：梅州市威利邦电子科技有限公司
摘要：本实用新型涉及片材厚度测量领域，公开了一种半固化片厚度测量设备，包括两个支撑立柱，两个支撑立柱相互靠近的一侧均开设有滑槽，所述滑槽的内部滑动连接有滑块，所述滑块相互靠近的一端固定安装有调节杆，所述调节杆的外表面滑动套设有滑动套杆，使用人员上下移动滑块使其带动调节杆、厚度测量壳体进行高度的调节，人员再左右滑动调节滑动套杆的位置使得厚度测量壳体位于带测量厚度的半固化片上方，此时通过厚度测量壳体内部安装的若干个超声波厚度传感器，便于对半固化片厚度进行测量，该装置整体结构简单调节、拆卸和安装便捷，既能摆放对半固化片进行静态厚度的测量又可以安装在输送装置的边侧实现动态下的半固化片厚度测量。
主权项：1.一种半固化片厚度测量设备，包括两个支撑立柱（1），其特征在于：两个支撑立柱（1）相互靠近的一侧均开设有滑槽（2），所述滑槽（2）的内部滑动连接有滑块（3），所述滑块（3）相互靠近的一端固定安装有调节杆（4），所述调节杆（4）的外表面滑动套设有滑动套杆（5），所述滑动套杆（5）的外表面固定安装有连接块（6），所述连接块（6）远离滑动套杆（5）的一端固定安装有厚度测量壳体（7），所述厚度测量壳体（7）的内部通过设置的螺栓固定安装有传感器支架（8），所述传感器支架（8）的顶面穿设固定安装有多个超声波厚度传感器（9），所述厚度测量壳体（7）的前侧固定安装有控制器壳体（10），所述超声波厚度传感器（9）与控制器壳体（10）内部安装的控制元件电性连接，所述支撑立柱（1）的边侧固定安装有固定机构（11）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 梅州市威利邦电子科技有限公司 一种半固化片厚度测量设备
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