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一种提高法拉第旋光片良率的方法 

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申请/专利权人:森一量子科技(厦门)有限公司

摘要:本发明公开了一种提高法拉第旋光片良率的方法,在衬底的上下表面同时生长一层法拉第旋光晶体,将上表面生长的法拉第旋光晶体作为抑制层,对晶圆在降温收缩的过程中提供作用力,抑制晶圆的翘曲,减少了晶圆开裂的问题,提升了产品良率,有助于生长大尺寸法拉第旋光片晶圆。

主权项:1.一种提高法拉第旋光片良率的方法,其特征在于,在衬底上表面制备抑制层,所述抑制层为法拉第旋光晶体;包括以下步骤:先升温将原料融化成熔体,接着降温到晶体生长所需温度,缓慢将衬底夹具下降使得衬底浸入所述熔体中,所述衬底夹具来回旋转,在其上表面形成抑制层,将所述衬底升高至其下表面接触熔体进行外延生长工艺,直至得到需要的晶圆厚度。

全文数据:

权利要求:

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