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申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司
摘要：本发明实施例提供了一种存储链路测试系统、方法、设备及存储介质，涉及存储硬件技术领域，存储链路测试系统包括连接的存储链路评估测试装置和待测服务器，所述存储链路评估测试装置，用于：获取针对测试需求提交的测试参数；所述测试参数中至少包括所述待测服务器的硬盘模拟信息和测试模式；根据所述硬盘模拟信息模拟所述待测服务器的硬盘；其中，模拟的所述硬盘至少包括使用新一代硬盘存储技术的硬盘；在控制所述待测服务器与模拟的所述硬盘的存储链路按照所述测试模式进行数据传输时，实时收集所述存储链路相关的测试数据；根据所述测试数据确定所述存储链路的性能情况。本发明实施例实现了对服务器的存储链路质量的无盘评估。
主权项：1.一种存储链路测试系统，其特征在于，包括连接的存储链路评估测试装置和待测服务器，所述存储链路评估测试装置，用于：获取测试参数；所述测试参数中至少包括所述待测服务器的测试模式和所述测试模式对应的硬盘模拟信息；其中，所述模拟信息至少包括所述待测服务器与硬盘之间数据传输时的接口协议；根据硬盘模拟信息模拟对应规格的所述待测服务器的硬盘；控制所述待测服务器中的节点与模拟的所述硬盘的存储链路按照所述接口协议进行数据传输，并实时收集数据传输所述存储链路相关的测试数据；根据所述测试数据确定所述存储链路的性能情况。
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权利要求：
百度查询： 苏州元脑智能科技有限公司 存储链路测试系统、方法、设备及存储介质
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