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从功率谱密度测量值移除测试设备噪声 

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摘要:本发明涉及从功率谱密度测量值移除测试设备噪声。一种示例性方法包括以下操作:i从被测器件DUT接收器件信号;ii设定衰减值;iii将该衰减值应用于该器件信号以产生用于频谱分析器件的衰减的器件信号,其中该频谱分析器件产生噪声信号;iv使用该频谱分析器件获得功率谱密度值,其中功率谱密度包括基于该衰减的器件信号和该噪声信号的组合信号在频率值处的功率;v重复操作ii、iii和iv一次或多次以产生多个功率谱密度值;vi重复操作i、ii、iii、iv和v一次或多次以将功率谱密度值加到该多个功率谱密度值;以及vii获得该器件信号的功率谱密度。

主权项:1.一种方法,所述方法包括以下操作:i从被测器件DUT接收器件信号;ii设定衰减值;iii将所述衰减值应用于所述器件信号以产生用于频谱分析器件的衰减的器件信号,所述频谱分析器件产生噪声信号;iv使用所述频谱分析器件获得功率谱密度值,其中功率谱密度包括基于所述衰减的器件信号和所述噪声信号的组合信号在频率值处的功率;v重复操作ii、iii和iv一次或多次以产生多个功率谱密度值;vi重复操作i、ii、iii、iv和v一次或多次以将功率谱密度值加到所述多个功率谱密度值;以及vii通过执行基于所述多个功率谱密度值的优化过程,通过从所述组合信号移除所述噪声信号中的至少一些噪声信号来获得所述器件信号的功率谱密度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 莱特普茵特公司 从功率谱密度测量值移除测试设备噪声

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