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一种基于TOF的校正测试方法及系统 

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申请/专利权人:盛泰光电科技股份有限公司

摘要:本发明涉及光学技术领域,公开了一种基于TOF的校正测试方法及系统,包括处理器模块,以及分别与处理器模块连接的TOF模组、测试工具和工具调节器;通过对TOF分别进行三项不同的校正测试,从而综合评估出当前TOF模组的性能,整个测试过程不仅操作简单、测量距离远,而且成本低、稳定性高,具有较高的安全性能。本发明具有简化TOF技术的测试过程、提高测试过程安全性的有益效果。

主权项:1.一种基于TOF的校正测试方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤S1,准备测试工具和测试环境,并进行产线验证和校正;步骤S2,分别对TOF模组进行在单张材料图表Chart下的测试、在3D材料图表Chart下的测试以及在多距离下的测试;所述在单张材料图表Chart下的测试包括以下内容:释放出TOF校正程式,确定模组组装后的第一站点IQC,然后进行均光测试和对焦测试;测试完成后释放出批次档运行程式文件,并根据预设的第一校正方案进行校正;所述在3D材料图表Chart下的测试包括以下内容:收集每颗模组一张原始图,并使棋盘格布满画面,依照线切三个面,并按照预设的拍摄规则进行拍摄;拍摄完成后对拍摄结果进行测试,利用3张黑白相间的专用材料图表Chart棋盘格,将棋盘格全部呈现在画面中,确认三面板均在黄线内侧;若镜头成像的总和结果reprojError0.265时出现fail,则确认棋盘格在画面内,然后确认棋盘格是否弯曲,若棋盘格不弯曲则继续下一个环境确认,反之则更换新的棋盘格;再确认影像是否模糊,若影像不模糊,则继续下一个环境确认,反之则更换TOF模组;最后确认舵机是否摇晃,若舵机不摇晃,则继续下一个环境确认,反之则重新固定舵机;确认焦距是否错误,perectErrFx表示焦距x错误,perectErrFy表示焦距y错误,若焦距正确则继续下一个环境确认,反之则依据出图调整焦距;再确认三面板是否满板,若满板则继续下一个环境确认,反之则调整三面板的位置;最后确认棋盘格是否弯曲,若棋盘格不弯曲则继续下一个环境确认,反之则更换新的棋盘格;确认光轴是否偏移,perectErrCx表示光轴x偏移,perectErrCy表示光轴y偏移,若光轴没有偏移则继续下一个环境确认,反之则调整模组与光轴上下左右的相对位置;然后确认三面板是否满板,若满板则继续下一个环境确认,反之则调整三面板的位置;最后确认棋盘格是否弯曲,若棋盘格不弯曲则继续下一个环境确认,反之则更换新的棋盘格;所述在多距离下的测试包括以下内容:设置多个测试距离,并利用TOF模组对专用白色小卡片进行拍摄测试;拍摄完成后根据预设的第二校正策略对测试结果进行校正;步骤S3,根据三种情况下的测试结果对TOF模组进行校正。

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