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一种光栅周期的测量装置及方法 

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申请/专利权人:南京南智先进光电集成技术研究院有限公司

摘要:本申请提供了一种光栅周期的测量装置及方法。该装置中,级联光栅可以安装于光源上方,安装座可以位于级联光栅中相对的两侧边上,用于安装待测光栅。如此,光源发出的光线从级联光栅的底面射入,并从级联光栅的顶面射出,再从待测光栅的底面射入,并从待测光栅的顶面射出。通过安装于待测光栅上方的观测窗口,可以观测到光线透过级联光栅和待测光栅后形成的干涉图案,并采用安装于待测光栅上方的摄像头拍摄干涉图案,以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定待测光栅的周期。整个装置结构简单,只需使用级联光栅即可对待测光栅的周期进行测量,大大降低了使用和日常维护的难度。

主权项:1.一种光栅周期的测量装置,其特征在于,所述装置(100)包括底座(101)和位于所述底座(101)上的光源(102);所述装置(100)还包括级联光栅(103)、安装座(104)、观测窗口(105)和摄像头(106);所述级联光栅(103)安装于所述光源(102)上方,所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的底面射入,并从所述级联光栅(103)的顶面射出;所述级联光栅(103)是由多个扇形光栅进行级联后组成的;其中,所述扇形光栅的最小周期为“Λ1”,最大周期为"Λ2";所述安装座(104)位于所述级联光栅(103)中相对的两侧边上,用于安装待测光栅(107);所述待测光栅(107)安装后位于所述级联光栅(103)上方,所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的顶面射出后,再从所述待测光栅(107)的底面射入,并从所述待测光栅(107)的顶面射出;所述级联光栅(103)底面的尺寸与所述光源(102)发光面的尺寸相匹配;所述待测光栅(107)底面的尺寸小于或等于所述级联光栅(103)底面的尺寸;所述安装座(104)为导轨;所述待测光栅(107)通过沿所述导轨移动;所述观测窗口(105)安装于所述待测光栅(107)的上方,用于观测光线透过所述级联光栅(103)和所述待测光栅(107)后形成的干涉图案;所述摄像头(106)安装于所述待测光栅(107)的上方,靠近所述观测窗口(105)且与所述观测窗口(105)位于同一高度,用于拍摄所述干涉图案,以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定所述待测光栅(107)的周期。

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权利要求:

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