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控制装置、系统、方法以及程序 

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申请/专利权人:株式会社理学

摘要:提供一种能够高效地取得对于以超过的分辨率确定溶液中的高分子的结构而言有意义的数据的控制装置、系统、方法以及程序。控制X射线分析装置的控制装置200具备:数据转换部223,其在各时间将从X射线分析装置取得的试样溶液数据和基准溶液数据转换为分布图;第一指标算出部232,其基于所述转换的分布图中的至少一方溶液数据的分布图,算出表示时间轴方向的强度的波动的第一指标;第一指标判定部234,其判定所算出的第一指标是否处于规定范围内;以及装置控制部268,其在第一指标不处于规定范围内的情况下,使由X射线分析装置进行的测定结束。

主权项:1.一种控制装置,是控制X射线分析装置的控制装置,其特征在于,具备:数据转换部,其在各时间将从X射线分析装置取得的试样溶液数据和基准溶液数据转换为分布图;第一指标算出部,其基于所述转换的分布图中的至少一方溶液数据的分布图,算出表示时间轴方向的强度的波动的第一指标;第一指标判定部,其判定所述算出的第一指标是否处于规定范围内;以及装置控制部,其在所述第一指标不处于规定范围内的情况下,使由所述X射线分析装置进行的测定结束。

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