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申请/专利权人：电子科技大学

摘要：本发明公开了一种光电探测器的三阶交调失真测试方法。本发明主要由两路电光调制光激励支路、光功率调节模块、待测光电探测器和频谱分析模块组成，其中，电光调制光激励支路由激光器、偏振控制器和电光强度调制器依次光连接组成，两路电光调制光激励支路分别与光功率调节模块、待测光电探测器光连接，第一信号源和第三信号源分别与电光强度调制器1的射频端和偏置端电连接，第二信号源和直流源分别与电光强度调制器2的射频端和偏置端电连接，待测光电探测器与频谱分析模块电连接。两路电光调制光激励支路在待测光电探测器中产生三阶交调成分，通过解耦三阶交调信号中电光调制器调制非线性响应，最终实现待测光电探测器的三阶交调失真测试。

主权项：1.一种光电探测器的三阶交调失真测试方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：搭建光电探测器的三阶交调失真测试装置，包括两路电光调制光激励支路、光合路器、光功率调节模块、待测光电探测器、频谱分析模块和控制与数据处理模块；所述电光调制光激励支路1由激光器1、偏振控制器1和电光强度调制器1依次光连接组成，电光调制光激励支路2由激光器2、偏振控制器2和电光强度调制器2依次光连接组成，两路电光调制光激励支路经光合路器合路后，分别与光功率调节模块和待测光电探测器依次光连接；第一信号源和第三信号源分别与电光强度调制器1的射频端和偏置端电连接，第二信号源和直流源分别与电光强度调制器2的射频端和偏置端电连接；所述控制与数据处理模块分别与第一信号源、第二信号源、第三信号源、直流源、频谱分析模块进行数据连接；步骤2：利用控制与数据处理模块控制第一信号源和第二信号源，分别输出频率为ω1和ω2的正弦信号，并分别加载在电光强度调制器1和电光强度调制器2的射频电极上，同时设置第三信号源和直流源仅输出直流偏压，使电光强度调制器1和电光强度调制器2工作在线性偏置点步骤3：利用频谱分析模块测量光电探测器输出电信号中频率为ω1或ω2和2ω1-ω2或2ω2-ω1的信号幅度，以测试ω1和2ω1-ω2为例，分别记为Iω1和IMeas2ω1-ω2，改变第一信号源和第二信号源输出的功率P1和P2，获得不同驱动功率P1P2下对应的一组Iω1和IMeas2ω1-ω2的数据；步骤4：去除三阶交调信号中由电光调制器非线性造成的影响，改变第三信号源输出频率为ωb的交流电信号，利用光功率调节模块减小入射进待测光电探测器中的光功率，使其在线性区工作；步骤5：对应步骤3中的第一信号源输出功率P1下，利用频谱分析模块测量不同驱动功率P1下的光电探测器输出电信号中频率为ωb的电信号幅度ILinωb；m1，关闭第一信号源输出，测量ωb处电信号幅度ILinωb；0，根据公式J0m1ω1＝ILinωb；m1ILinωb；0，计算出电光强度调制器1在这些驱动功率P1时，调制频率为ω1的调制系数m1ω1，其中，J0m1ω1为第一类零阶贝塞尔函数；步骤6：利用测得的不同驱动功率P1P2下对应的一组IMeas2ω1-ω2数据和对应不同驱动功率P1下的调制系数m1ω1，按照如下公式可以计算得到不同驱动功率P1P2下，仅由待测光电探测器非线性引起的三阶交调信号2ω1-ω2的幅度，记为IDes2ω1-ω2： 步骤7：分别对Iω1和IDes2ω1-ω2进行曲线拟合，获得随驱动功率P1P2变化的线性拟合曲线，两条线性拟合曲线所确定的交点的纵坐标值即为该待测光电探测器在频率为ω1处的三阶输出截取点OIP3；步骤8：改变第一信号源和第二信号源输出正弦信号的频率ω1和ω2，重复步骤2-7可得到待测光电探测器在不同调制频率处的三阶交调失真参数。

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