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申请/专利权人：澳门科技大学
摘要：本发明公开了一种漫反射光谱的测试方法和测试系统，测试方法包括往样品槽中填入粉末样品，对填入所述样品槽后的粉末样品进行压实操作；通过目标工具对所述样品槽中的粉末样品进行预处理操作，使得所述样品槽中的粉末样品与所述样品槽的边缘齐平，得到待测样品的目标样品；将装有所述目标样品的样品槽放入测试装置，启动所述测试装置对所述目标样品测试，以得到所述待测样品的漫反射光谱数据。通过本发明的漫反射光谱的测试方法和测试系统，能够降低了漫反射光谱的测试误差，使得利用漫反射光谱计算得到的半导体带隙具有较好的再现性。
主权项：1.一种漫反射光谱的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：步骤S10：往样品槽中填入粉末样品，对填入所述样品槽后的粉末样品进行压实操作；步骤S20：通过目标工具对所述样品槽中的粉末样品进行预处理操作，使得所述样品槽中的粉末样品与所述样品槽的边缘齐平，得到待测样品的目标样品；步骤S30：将装有所述目标样品的样品槽放入测试装置，启动所述测试装置对所述目标样品测试，以得到所述待测样品的漫反射光谱数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 澳门科技大学 一种漫反射光谱的测试方法和测试系统
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