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申请/专利权人：江苏腾威纺织科技有限公司

摘要：本发明涉及光学检测技术领域，提出了一种服装布料性能测试方法，包括：获取光谱图像；对光谱图像使用分割得到若干超像素块和分块区域，获取超像素块的相似超像素块，基于此得到超像素块出现噪声像素点的可能性；获取分块区域的同位区域，得到分块区域和同位区域的相似性，得到灰度区域差值，根据灰度区域差值和超像素块出现噪声像素点的可能性得到分块区域为噪声区域的可能性；获取波段图像的梯度图像，根据梯度值对超像素块聚类得到超像素块为褶皱超像素块的概率；基于此得到分块区域的最终噪声可能性；根据最终噪声可能性进行去噪，并完成色牢度检测。本发明对噪声程度高的进行二次去噪，保障了在根据光谱图像进行色牢度检测时的实验可靠性。

主权项：1.一种服装布料性能测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取光谱图像；对光谱图像使用超像素分割得到若干超像素块，获取光谱图像的若干波段图像，波段图像对超像素块聚类得到分块区域，获取超像素块的相似超像素块，根据超像素块以及相似超像素块获取差异最大的若干像素点，根据差异最大的若干像素点以及相似超像素块数量得到每个超像素块出现噪声像素点的可能性；获取分块区域的同位区域，得到分块区域和同位区域的轮廓相似性，根据分块区域每个超像素块的灰度值得到差异值，根据差异值和轮廓相似性得到分块区域和同位区域的相似性，根据每个分块区域与相似区域超像素块的灰度差值得到灰度区域差值，并结合每个超像素块出现噪声像素点的可能性得到每个分块区域的噪声关联度，根据分块区域和同位区域的相似性和噪声关联度得到分块区域为噪声区域的可能性；获取波段图像的梯度图像，得到梯度图像超像素块的梯度值，根据梯度值对超像素块聚类，根据超像素块与聚类中心的距离以及超像素块相邻梯度值差异得到每个超像素块为褶皱超像素块的概率；并根据每个超像素块为褶皱超像素块的概率、超像素块出现噪声像素点的可能性、分块区域为噪声区域的可能性得到分块区域的最终噪声可能性；根据最终噪声可能性进行去噪，并完成色牢度检测；所述分块区域的最终噪声可能性的表达式为： 式中，表示第z个分块区域中第u个超像素块出现噪声像素点的可能性，表示第z个分块区域中第u个超像素块为褶皱超像素块的概率，为第z个分块区域中超像素块的数量，表示第z个分块区域为噪声区域的可能性，为线性归一化函数，表示第z个区域的最终噪声可能性。

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