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申请/专利权人:天合光能股份有限公司
摘要:本公开涉及一种光伏封装胶膜的测试方法,该方法包括:对第一层压结构取样并检测目标参数,得到第一层压结构中的预处理的第一封装胶膜的第一参数值;第一层压结构由第一面板、第一离型膜、第一封装胶膜、第二离型膜及第二面板层叠并层压形成;预处理包括恒温预处理或高低温循环预处理;对第二层压结构取样并检测目标参数,得到第二层压结构中未预处理的第二封装胶膜的第二参数值;第二层压结构由第三面板、第三离型膜、第二封装胶膜、第四离型膜及第四面板层叠并层压形成;根据第一参数值及第二参数值,确定封装胶膜的参数衰减测试结果。通过本公开的测试方法,能够快速验证光伏封装胶膜关键性能指标并及时识别其可靠性风险。
主权项:1.一种封装胶膜的测试方法,其特征在于,所述方法包括:对第一层压结构取样并检测目标参数,得到所述第一层压结构中的预处理的第一封装胶膜的第一参数值;其中,所述第一层压结构由第一面板、第一离型膜、所述预处理的第一封装胶膜、第二离型膜及第二面板层叠并层压形成;预处理包括恒温预处理或高低温循环预处理,所述第一封装胶膜的所述预处理是在所述第一封装胶膜被层压之前进行的,以便模拟光伏封装胶膜可能经历的长时间的放置、运输、周转、贮存过程;对第二层压结构取样并检测目标参数,得到所述第二层压结构中未预处理的第二封装胶膜的第二参数值;其中,所述第二层压结构由第三面板、第三离型膜、所述未预处理的第二封装胶膜、第四离型膜及第四面板层叠并层压形成;并且根据所述第一参数值及所述第二参数值,确定封装胶膜的参数衰减测试结果。
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