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申请/专利权人：深圳市万联芯科技有限公司
摘要：本实用新型公开了一种用于集成电路测试工装，属于电路集成电路测试技术领域，包括底板，所述底板上端两侧均固定连接有支撑架，所述支撑架上端中部固定连接有升降装置，所述升降装置下端固定连接有连接板，所述连接板下表面固定连接有若干规则测试组件；所述底板上端开设有凹槽一；所述底板上表面左侧固定连接有固定装置一，所述固定装置一上端内表面固定连接有弹性装置；所述底板上表面右侧滑动连接有固定装置二，通过升降装置，带动连接板，即带动测试组件可以上升或下降到合适的位置进行检测，且通过转动转动轴，可以使两个固定装置相互运动，进而适应不同规格的集成电路，且通过弹性装置，可以在不损害集成电路的情况下进行固定。
主权项：1.一种用于集成电路测试工装，包括底板1，其特征在于：所述底板1上端两侧均固定连接有支撑架3，所述支撑架3上端中部固定连接有升降装置4，所述升降装置4下端固定连接有连接板9，所述连接板9下表面固定连接有若干规则测试组件10；所述底板1上端开设有凹槽一101；所述底板1上表面左侧固定连接有固定装置一5，所述固定装置一5上端内表面固定连接有弹性装置11；所述底板1上表面右侧滑动连接有固定装置二8。
全文数据：
权利要求：
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