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一种精密光谱仪波长校准方法及装置 

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申请/专利权人:中电科思仪科技股份有限公司

摘要:本发明公开了一种精密光谱仪波长校准方法,该方法包括如下步骤:光频率梳光源的标准光谱数据,与精密光谱仪的仪器线型函数进行卷积,通过调整仪器线型函数的谱宽参数,得到与待波长校准精密光谱仪的光谱分辨率匹配的波长校准参考数据;使用标准光纤跳线连接光频率梳光源和精密光谱仪,精密光谱仪获取光频率梳光源的测量光谱数据;将测量光谱数据按照波长范围分为数段,在每一波段内,采用最小二乘拟合方法,对于波长校准参考数据和测量光谱数据的所有峰值波长进行拟合,得到波长校准系数;采用波长校准系数,对于精密光谱仪的测量光谱数据进行波长校准。本发明能够满足精密光谱仪的波长校准需求,解决精密光谱仪的高精度波长校准难题。

主权项:1.一种精密光谱仪波长校准方法,其特征在于,包括:步骤1:获取光频率梳光源的标准光谱数据,与精密光谱仪的仪器线型函数进行卷积,通过调整仪器线型函数的谱宽参数,得到与待波长校准精密光谱仪的光谱分辨率匹配的波长校准参考数据;步骤2:使用标准光纤跳线连接光频率梳光源和精密光谱仪,精密光谱仪获取光频率梳光源的测量光谱数据;步骤3:将测量光谱数据按照波长范围分为数段,在每一波段内,采用最小二乘拟合方法,对于波长校准参考数据和测量光谱数据的所有峰值波长进行拟合,得到波长校准系数;步骤4:采用波长校准系数,对于精密光谱仪的测量光谱数据进行波长校准,从而完成波长校准。

全文数据:

权利要求:

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