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申请/专利权人：天津大学
摘要：本发明涉及反光表面测量技术领域，公开了一种大尺寸反光表面测量方法，包括如下步骤：包括如下步骤：S1：多点获得反光表面图像并处理得到发光点的重心坐标；S2：依据重心坐标计算出射光线和大尺寸反光表面的交点；S3：得到入射光线方向，并求出待测反光面法矢；S4：重建待测反光面面形；该方法可用于大尺寸待测面的测量，操作简单，检测速度快；且本方法基于反射定律进行计算，对大尺寸反光表面面形敏感度高，经过验证，误差小，能够达到微米级的测量精度。
主权项：1.一种大尺寸反光表面测量方法，其特征在于，包括如下步骤：S0：搭建测量系统：S11：将可控发光点光源与相机阵列安装在待测的大尺寸反光表面同侧，使得相机阵列可以通过大尺寸反光表面拍摄到可控发光点光源；S12：构建仿真光路，依据相机阵列检测精度需求控制相机阵列视野范围，并基于相机阵列成像矩阵计算相机阵列摆放位置；S13：通过相机阵列位置计算大尺寸反光面采样点对应的相机阵列光线方向，基于反射定律确定入射光线方向，即可控发光方向；S14：计算入射光线和可控发光点光源阵列所在近似平面的交点，从而确定可控发光点光源阵列的参考分布位置，并进行可控发光点光源阵列排布；S1：控制可控发光点光源阵列发光，相机阵列进行拍摄，得到反光表面图像，通过二值化算法与连通域算法计算可控发光点光源阵列所在位置区域，基于该位置区域，计算图像对应的发光点的重心坐标；S2：依据重心坐标计算出射光线和大尺寸反光表面的交点；S3：得到入射光线方向，并求出待测反光面法矢；S4：重建待测反光面面形。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 天津大学 一种大尺寸反光表面测量方法
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