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申请/专利权人：武汉理工大学
摘要：本发明公开了一种IC逆向工程中的图像拼接方法，该方法包括以下步骤：S1、获取存在重叠区域的两幅待拼接图像，一幅作为基准图I1，另一幅作为待配准图I2；S2、基于序列模板匹配法，对基准图I1和待配准图I2进行图像配准；S3、基于最佳匹配点，利用选择式拼接法对基准图I1和待配准图I2进行图像拼接；S4、利用加权平均法进行图像融合，得到两幅待拼接图像的拼接图。该方法使用序列模板匹配法提高图像配准效率，再结合选择式拼接策略提高拼接精度，最后使用加权平均法实现图像的无缝融合。本发明可以提高拼接精度，提高IC逆向工程中显微图像的拼接效率，从而缩短整体IC逆向工程的周期，加快芯片设计的速度。
主权项：1.一种IC逆向工程中的图像拼接方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：S1、获取存在重叠区域的两幅待拼接图像，一幅作为基准图I1，另一幅作为待配准图I2；S2、基于序列模板匹配法，对基准图I1和待配准图I2进行图像配准；具体包括：S21、在基准图I1的先验重叠区中选取一块区域作为模板图像T；S22、将模板图像T分成L个模板子图{Ti}0＜i≤L；S23、按照模板子图的灰度直方图方差从大到小给L个模板子图{Ti}0＜i≤L排序，生成序列模板{Tk}0＜k≤L；S24、基于待配准图I2获取待搜索区域S，得到待匹配点集P＝{pi,j|i,j∈S}；S25、将序列模板依次映射到待搜索区域S中寻找最佳匹配点：遍历待匹配点，计算序列模板与待匹配点对应区域的相似度；剔除相似度低于相似度阈值的待匹配点，以收缩待匹配区域；计算下一序列模板与剩余待匹配点对应区域的相似度，继续剔除待匹配点，直至待匹配点数为1，得到最佳匹配点；S3、基于最佳匹配点，利用选择式拼接法对基准图I1和待配准图I2进行图像拼接；S4、利用加权平均法进行图像融合，得到两幅待拼接图像的拼接图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉理工大学 IC逆向工程中的图像拼接方法及系统
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