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申请/专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
摘要：一种电子器件测试系统100包括具有探针对的接触器110，其中第一导电探针和第二导电探针耦合到封装的电子器件160的相应导电特征部161、162、163、164、165、166、167、168或晶圆管芯区域。系统100还包括测试电路101，该测试电路101具有：电压源102，其用于提供共模电压信号VCM；第一缓冲器130，其第一输入端131耦合到电压源102的输出端103，输出端133耦合到第一探针对112122的第一导电探针112，以及第二输入端132耦合到第一探针对112122的第二导电探针122；以及第二缓冲器140，其第一输入端141耦合到电压源102的输出端103，输出端143耦合到第二探针对113123的第一导电探针113，以及第二输入端142耦合到第二探针对113123的第二导电探针123。
主权项：1.一种系统，包括：接触器，其包括分别包括第一导电探针和第二导电探针的探针对，所述第一导电探针和所述第二导电探针被布置为耦合到被测器件即DUT的相应导电特征部；耦合到所述接触器的测试电路，所述测试电路包括：电压源，其包括提供共模电压信号的第一输出端和耦合到参考节点的第二输出端；第一缓冲器，其包括：耦合到所述电压源的所述第一输出端的第一输入端、耦合到第一探针对的第一导电探针的输出端，以及耦合到所述第一探针对的第二导电探针的第二输入端，所述第一探针对的所述第一导电探针被布置为耦合到连接到所述DUT的第一输入节点的导电特征部；以及第二缓冲器，其包括：耦合到所述电压源的所述第一输出端的第一输入端、耦合到第二探针对的第一导电探针的输出端，以及耦合到所述第二探针对的第二导电探针的第二输入端，所述第二探针对的所述第一导电探针被布置为耦合到连接到所述DUT的第二输入节点的导电特征部。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 德克萨斯仪器股份有限公司 共模抑制比测试系统和方法
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