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申请/专利权人：IMEC非营利协会;鲁汶天主教大学
摘要：公开了一种用于估计经历性能退化的集成电路105的工作年龄的传感器100和相关的篡改检测方法。传感器100可在常规使用模式或读出模式下操作，并包括对温度应力和电压应力作出响应的性能监测器101和对温度压力作出响应的退火监测器102。性能监测器101被配置成在传感器以常规使用模式工作时接收集成电路105的工作电压V_OP。每一退火监测器102都是预应力监测器，并且每一性能监测器101和每一退火监测器102被配置成在所述传感器以所述读出模式工作时生成指示相应监测器的性能退化的输出信号S1，S2。
主权项：1.一种用于估计经历性能退化的集成电路105的工作年龄的传感器100，所述传感器100能选择性地在常规使用模式或读出模式下操作，并且包括对温度应力和电压应力作出响应的至少一个性能监测器101，其中所述至少一个性能监测器101被配置成在所述传感器在所述常规使用模式下操作从而经历性能退化时接收所述集成电路105的标称工作电压V_OP作为输入信号，其特征在于，所述传感器100包括对温度应力作出响应的至少一个退火监测器102，每一退火监测器102是预应力监测器，以考虑在欺诈性退火尝试期间所述性能监测器和所述退火监测器中性能退化的加速松弛，以及每一性能监测器101和每一退火监测器102被配置成在所述传感器以所述读出模式工作时生成指示相应监测器的性能退化的输出信号S1，S2。
全文数据：
权利要求：
百度查询： IMEC非营利协会 鲁汶天主教大学 知悉篡改的年龄传感器
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