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申请/专利权人：武汉精立电子技术有限公司;武汉加特林光学仪器有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
摘要：本申请属于近眼显示领域，具体公开了一种NED设备双目一致性评估方法、系统及设备，NED设备包括两个光学显示系统，方法包括：利用光学检测系统，同时获取两个光学显示系统的至少一种相同的光学特性参数；获取所述两个光学显示系统的相同的光学特性参数的差异值，以及所述相同的光学特性参数允许的最大差异值；根据所述差异值以及所述允许的最大差异值确定NED设备的所述光学特性参数的一致性评分；根据所述光学特性参数的一致性评分，得到NED设备的双目一致性评估结果。通过本申请，实现了NED设备双目一致性的有效评估和双目一致性的有效补偿，从而提高了NED产品的质量和良率，改善了用户的佩戴体验，有利于NED产品的推广和使用。
主权项：1.一种近眼显示NED设备双目一致性评估方法，所述NED设备包括两个光学显示系统，其特征在于，方法包括：利用光学检测系统，同时获取两个光学显示系统的至少一种相同的光学特性参数；所述两个光学显示系统为左眼光学显示系统和右眼光学显示系统；获取所述两个光学显示系统的相同的光学特性参数的差异值，以及所述相同的光学特性参数允许的最大差异值；根据所述差异值以及所述允许的最大差异值确定所述NED设备的所述光学特性参数的一致性评分；根据所述光学特性参数的一致性评分，得到所述NED设备的双目一致性评估结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉精立电子技术有限公司 武汉加特林光学仪器有限公司 武汉精测电子集团股份有限公司 一种NED设备双目一致性评估方法、系统及设备
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