买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:南京微盟电子有限公司
摘要:本发明涉及一种基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法,属于芯片测试技术领域。采用了本发明的LDO芯片批量测试方法,芯片测试单元实现芯片自动测试分选机和ATE自动测试机与待测芯片的连接,调用ATE自动测试机的测试资源,实现待测芯片的外观极性测试、电性能测试和外观缺陷测试,进一步的电性能测试包括:接触性测试;开短路测试;电流耐压功耗测试;输出电压功能及压差测试;电源抑制比和噪声测试;保护功能测试以及修调测试。从而实现了一种涵盖LDO类芯片的全部功能的,可应用于CP测试,FT测试,三温测试等芯片测试环节中的低压差线性稳压器LDO芯片批量测试方法。
主权项:1.一种基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法,其特征在于,采用芯片测试单元中的芯片接触socket实现芯片自动测试分选机与待测芯片的连接,利用分选芯片机制实现对于待测芯片的自动化选料;采用芯片测试单元中的测试资源通道实现ATE自动测试机与待测芯片的连接,通过在所述的芯片测试单元上调用所述的ATE自动测试机提供的测试资源,用于待测芯片的不同功能的测试;所述的芯片自动测试分选机与所述的ATE自动测试机之间实现信号通讯;实现以下测试内容:21对待测芯片进行外观极性测试;22对待测芯片进行电性能测试;23对待测芯片进行外观缺陷测试。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 南京微盟电子有限公司 基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。