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申请/专利权人：中国科学院大连化学物理研究所
摘要：本发明属于分析化学领域，具体涉及一种自动识别散射区域，去除散射数据并填补去除部分的计算方法。包括以下步骤：首先，对于二维的光谱数据，通过拉曼散射和瑞利散射机理以及其对应的能量判断散射位置；然后，在一维光谱数据的基础上，通过散射位置和散射强度判断散射能量的覆盖范围，并将无用能量进行剔除；最后，对于去除散射数据的区域进行插值处理，达到去无用除散射并补齐的目的。本发明可以快速的自动识别出无用散射的位置，不需要人为设定散射能量的宽度，在可接受的误差范围内，最大限度的保留数据，这大大的提高了去除散射过程中的准确性和实现效率。这为实现大量含散射的光谱数据的批量处理提供可能。
主权项：1.荧光光谱无用散射自动去除方法，其特征在于，包括以下步骤：1）通过荧光光谱仪获取有机物中的荧光光谱数据，并对荧光光谱数据进行预处理；2）取出预处理后的荧光光谱数据中荧光强度大于阈值的若干个数据，并对其进行拟合，得到拟合参数；3）根据拟合参数，构建荧光光谱数据的表达式：y=kx+b，其中，y为荧光光谱的激发波长，x为荧光光谱的发射波长，k、b为拟合参数，并判断斜率截距是否在规定范围内，如果在范围内，则输出直线的截距和斜率，否则，放宽能量点的选择标准，增加高能量点的数量并重新拟合直线方程；4）取x为某一值时，y所对应的荧光光谱范围中，荧光强度的最大值；5）对步骤4）中的荧光强度最大值进行处理，去除该发射波长下的散射；6）重复步骤4）～步骤5），直至对全部荧光光谱完成处理，对每一个发射波长下处理后的荧光光谱进行整合，得到完整的荧光光谱；7）判断处理后的荧光光谱是否还存在散射，若不存在，则输出荧光光谱至上位机，使其可视化；若存在，则重复步骤2）～步骤6）继续对其处理，并将处理后的荧光光谱输出至上位机，使其可视化；所述散射包括：瑞利散射以及拉曼散射，其中，瑞利散射与拉曼散射的拟合参数不同，所述步骤7）中若还存在散射，则存在的散射为拉曼散射。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院大连化学物理研究所 荧光光谱无用散射自动去除方法
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