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申请/专利权人：武汉新芯集成电路股份有限公司
摘要：本申请公开了一种擦除编程校验方法、擦除编程校验系统及存储器，该擦除编程校验方法基于第一时序分时执行多个读取操作事项、基于第二时序分时执行多个校验操作事项，且通过在第一时序、第二时序在时间轴上的重叠时间段内同步或者同时执行读取操作事项、校验操作事项，相较于同一时间内仅执行读取操作事项或者校验操作事项节省或者减少了检验擦写动作是否完成的所需时间，进而提高了校验效率。
主权项：1.一种擦除编程校验方法，其特征在于，包括：基于第一时序分时执行多个读取操作事项；基于第二时序分时执行多个校验操作事项，所述第二时序滞后于所述第一时序，所述校验操作事项与所述读取操作事项不同；以及响应于所述第一时序、所述第二时序在时间轴上的重叠，同步执行所述读取操作事项、所述校验操作事项；配置每个所述校验操作事项包括至少一个比较操作子事项；根据所述第二时序先后依次执行所述至少一个比较操作子事项；配置每个所述校验操作事项还包括至少一个写入操作子事项；根据所述第二时序先后依次执行所述至少一个写入操作子事项。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉新芯集成电路股份有限公司 擦除编程校验方法、擦除编程校验系统及存储器
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