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申请/专利权人:西安艾德乐电器有限公司
摘要:本申请涉及图像数据处理技术领域,尤其涉及一种基于X光图像的熔片断裂检测方法。方法包括:获取待检测的目标熔片的X光图像,并确定X光图像中像素点的梯度方向以及梯度大小;根据X光图像中目标像素点的目标范围内其他像素点的梯度方向以及梯度大小,确定目标像素点的目标参数值;利用指数函数对目标参数值进行处理获得指数运算值,并根据指数运算值的倒数与第一预设梯度阈值的乘值,确定目标像素点的目标阈值;在目标像素点的梯度大小大于目标阈值的情况下,将目标像素点作为熔片的断裂处所在的像素点,以获得断裂区域。通过以上技术方案,能够在熔片存在断裂的情况下确定出更为准确的断裂区域。
主权项:1.一种基于X光图像的熔片断裂检测方法,其特征在于,包括:获取待检测的目标熔片的X光图像,并确定X光图像中像素点的梯度方向以及梯度大小;针对X光图像中的目标像素点,根据目标像素点的目标范围内其他像素点的梯度方向以及梯度大小,确定目标像素点的目标参数值,所述目标参数值用于表征目标像素点为断裂处的像素点的概率;利用指数函数对所述目标参数值进行处理获得指数运算值,并根据指数运算值的倒数与第一预设梯度阈值的乘值,确定目标像素点的目标阈值;在目标像素点的梯度大小大于所述目标阈值的情况下,将目标像素点作为熔片的断裂处所在的像素点,以获得断裂处所在的多个像素点所组成的断裂区域。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 西安艾德乐电器有限公司 基于X光图像的熔片断裂检测方法
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