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申请/专利权人：西南大学
摘要：本发明公布一种同时测定微纳米颗粒表面电荷密度和哈梅克常数的方法。首先，利用光散射技术测定Na+和K+条件下微纳米颗粒凝聚的临界聚沉浓度CCC；其次，在该浓度条件下，通过量化两种离子与微纳米颗粒界面相互作用的离子特异性效应，计算颗粒间静电斥力和长程分子引力的合力；最后，联立方程，获得Na+和K+体系下表面电荷密度和哈梅克常数的关系曲线，二者交点即为待测微纳米颗粒的表面电荷密度和哈梅克常数。本发明涉及环境生态、材料、医学催化等多领域，能够同时表征微纳米颗粒表面电荷密度和哈梅克常数两个重要的性质指标，将是微纳米颗粒界面性质研究及应用领域的一个重大突破。
主权项：1.同时测定微纳米颗粒表面电荷密度和哈梅克常数的方法，其特征在于，包括以下过程：首先，利用光散射技术测定Na+和K+条件下的微纳米颗粒凝聚的临界聚沉浓度CCC；其次，在该浓度条件下，通过量化两种离子与微纳米颗粒界面相互作用的离子特异性效应，计算颗粒间静电斥力和长程分子引力的合力；最后，联立方程，获得Na+和K+体系下表面电荷密度和哈梅克常数的关系曲线，二者交点即为待测微纳米颗粒的表面电荷密度和哈梅克常数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西南大学 同时测定微纳米颗粒表面电荷密度和哈梅克常数的方法
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