龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：浙江广芯微电子有限公司
摘要：本发明公开了一种高压碳化硅MOS的老化性能动态评估方法及系统，涉及半导体性能评估技术领域，该方法包括：对高压碳化硅MOS进行动态性能测试，获得多个性能参数集；获得泄漏电流匹配性信息集、击穿电压匹配性信息集和开关损耗匹配性信息集，构建泄漏电流特殊度集、击穿电压特殊度集和开关特殊度集；获得多个参数效用信息，并配置多个老化分析算力；获得多个老化性能评估结果和老化性能变化系数，作为老化性能动态评估结果。解决了现有碳化硅MOS老化性能评估存在的无法有效融合多种性能参数的动态变化，导致难以全面准确评估器件的实际老化状态、预测器件老化风险的技术问题，达到了提高老化性能评估的全面性、准确性的技术效果。
主权项：1.一种高压碳化硅MOS的老化性能动态评估方法，其特征在于，所述方法包括：对高压碳化硅MOS在多个工作阶段进行动态性能测试，获得多个性能参数集，划分获得导通电阻集、栅极泄漏电流集、击穿电压集和开关损耗集，其中，每个性能参数集内包括导通电阻、栅极泄漏电流、击穿电压和开关损耗；根据所述导通电阻集，进行所述栅极泄漏电流集、击穿电压集和开关损耗集内数据的测试匹配性分析，获得泄漏电流匹配性信息集、击穿电压匹配性信息集和开关损耗匹配性信息集，并进行匹配特殊度分析，构建泄漏电流特殊度集、击穿电压特殊度集和开关特殊度集；根据所述泄漏电流特殊度集、击穿电压特殊度集和开关特殊度集，对所述多个性能参数集进行参数效用融合，获得多个参数效用信息，并配置多个老化分析算力；根据所述多个老化分析算力，对所述多个性能参数集进行老化性能分析，获得多个老化性能评估结果和老化性能变化系数，作为老化性能动态评估结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 浙江广芯微电子有限公司 一种高压碳化硅MOS的老化性能动态评估方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号