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申请/专利权人：天津市智华科技发展有限公司

摘要：本发明公开了一种芯片性能检测装置，涉及芯片检测技术领域。一种芯片性能检测装置，包括底座、拾取机构、芯片放置台板和检测台，所述检测台设置有检测域和测试插座，所述拾取机构自芯片放置台板处拾取芯片移动至检测域处定位，芯片定位后拾取机构移动芯片至测试插座进行检测，所述检测域处设置有调节滑台、拍摄探头、穿孔和圆环，圆环的垂直投影区为检测域。本发明通过拾取机构、芯片放置台板和检测台等的设置，该装置在使用过程中能够依次对芯片进行自动化检测，省略了人工操作的各项步骤，并且在使用过程中通过检测域对芯片的定位，能够有效确保芯片与测试座的精准对接，获得更高效的调校方式。

主权项：1.一种芯片性能检测装置，其特征在于，包括：底座（1）、拾取机构、芯片放置台板（6）和检测台；所述检测台设置有检测域（10）和测试插座（11）；所述拾取机构自芯片放置台板（6）处拾取芯片移动至检测域（10）处定位，芯片定位后拾取机构移动芯片至测试插座（11）进行检测；所述检测域（10）处设置有调节滑台（12）、拍摄探头（121）、穿孔（122）和圆环（123），圆环（123）的垂直投影区为检测域（10）；所述圆环（123）的中心点设为基准点，拍摄探头（121）安装于圆环（123）下方用于拍摄芯片位置，芯片移动至检测域（10）后经过拍摄探头（121）确定芯片中心点位置，拾取机构控制芯片移动直至芯片中心点与基准点在投影面上重合，芯片中心点与投影面重合后基于现位置与测试插座（11）之间生成新路径，所述拾取机构基于新路径将芯片移动至测试插座（11）进行检测；所述芯片放置台板（6）包括直线滑台一（5），直线滑台一（5）顶部安装有托板（601），托板（601）的顶部安装有两个用于放置芯片的置板（603），托板（601）纵横排列有芯片放置槽，每个芯片放置槽均形成一个坐标点，拾取机构依次自坐标点拾取芯片；所述托板（601）顶部一边固定有限位条（602），托板（601）顶部中部和顶部另一边均固定有导条（607），位于中部的导条（607）将两侧分隔出两块区域分别用于安装一个置板（603），一个置板（603）用于放置待检测芯片和检测后芯片，另一个置板（603）用于放置经过检测后状态有异的芯片；所述导条（607）一侧均通过转轴（606）转动安装一个抵条（604），抵条（604）与导条（607）之间还设置有弹簧二（605），抵条（604）与置板（603）相贴的一侧设置有凸出（6041），每个置板（603）对应凸出（6041）处均设置有凹口；所述拾取机构包括移动臂（3）和吸取器（4），所述吸取器（4）安装于移动臂（3），底座（1）上安装有框架（2），移动臂（3）安装于框架（2）上，所述框架（2）与移动臂（3）形成XY滑台结构。

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