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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所

摘要：本发明公开了一种单光子焦平面探测效率测试装置及方法，属于测试领域。本发明装置包括短脉冲激光源、衰减器、周期极化晶体、分光单元、第一光学滤波单元、第二光学滤波单元、触发单光子探测器、待校单光子探测器、符合测量仪器、信号源及测量光路透过率的激光源和反射镜。本发明利用相关光子源对单元单光子探测效率进行校准后，结合后脉冲概率参数修正等可得到入射光子通量，已知入射光子通量后计算得出被测单光子焦平面的探测效率值；本发明方案是基于相关光子源加符合测量仪器组成一套测试系统，不同于传统的测试思路，该方案是一种基准式测量方案，测量精度相较传统方案测量准确度更高，不需要溯源至更高一级的计量标准。

主权项：1.一种单光子焦平面探测效率测试装置，其特征在于，包括短脉冲激光源、衰减器、周期极化晶体、分光单元、第一光学滤波单元、第二光学滤波单元、触发单光子探测器、待校单光子探测器、符合测量仪器、信号源及测量光路透过率的激光源和反射镜；短脉冲激光源、衰减器、周期极化晶体、分光单元、第一光学滤波单元、待校单光子探测器、符合测量仪器通过线路依次连接；短脉冲激光源、衰减器、周期极化晶体、分光单元、第二光学滤波单元、触发单光子探测器、符合测量仪器通过线路依次连接；信号源分别与触发单光子探测器、待校单光子探测器、短脉冲激光源通过线路连接；短脉冲激光源，被配置为用于泵浦周期极化晶体产生相关光子；衰减器，被配置为用于对短脉冲激光源输出强度进行调节；周期极化晶体，被配置为用于作为产生相关光子源的媒介；分光单元，被配置为用于将相关光子对在空间上进行分离，并对泵浦光进行初步滤波；光学滤波单元，被配置为用于将包括泵浦光在内的非相关光子进行滤波；触发单光子探测器、待校单光子探测器，被配置为用于分别接收两路相关光子，并将计数信号接入符合测量仪器用于符合计数；符合测量仪器，被配置为用于记录两单光子探测器两路光子计数信号并进行符合测量；信号源，被配置为用于同步触发短脉冲光源、触发单光子探测器、待测待校单光子探测器，并调整三路触发信号之间的时延，使其同步工作；激光源、反射镜，被配置为用于测量待校单光子探测器所在光学通道透过率。

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