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申请/专利权人：华为技术有限公司
摘要：一种晶体判定方法、装置及存储介质，其中，该方法包括：获取晶体在预设温度段的至少三个温度值，以及每个温度值对应的测试频偏值，根据该至少三个温度值以及每个温度值对应的测试频偏值，确定晶体在预设温度段时晶体对应频偏曲线的拟合一次项系数值和拟合常数项值，根据得到的拟合一次项系数值和拟合常数项值，判定该晶体是否合格。该方法的判定结果准确度高，可靠性高，避免了不合格晶体无法被发现的问题。
主权项：1.一种晶体判定方法，其特征在于，包括：获取晶体在预设温度段的至少三个温度值，以及每个所述温度值对应的测试频偏值；根据所述至少三个温度值以及每个所述温度值对应的测试频偏值，确定所述晶体在所述预设温度段时所述晶体对应频偏曲线ft的拟合一次项系数值c1和拟合常数项值c0，所述频偏曲线ft采用公式1表示：ft＝c1t-t0+c01式中，t：温度值变量，t0：基准温度值，ft：温度值为t时的频偏值；根据所述拟合一次项系数值c1和所述拟合常数项值c0，判定所述晶体是否合格。
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权利要求：
百度查询： 华为技术有限公司 晶体判定方法、装置及存储介质
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