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申请/专利权人：天津宝兴威科技股份有限公司

摘要：本发明涉及纳米银透明导电膜质量检测技术领域，具体公开一种基于机器视觉的纳米银透明导电膜质量检测系统，该系统包括：检测组划分模块、导电性能检测模块、透明度检测模块、数据库、平整度检测模块和综合质量评估模块；本发明通过分析纳米银透明导电膜的导电性能指数、透明度符合指数和平整度，从而分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的综合质量评估指数，并进行反馈，直观地展示了纳米银透明导电膜的质量情况，解决了传统的质量检测方法中存在的检测效率低、精度差等问题，通过机器视觉技术实现自动化检测，提高了检测效率，有助于提升产品性能、优化产品设计、加强质量控制，并最终提升产品的市场竞争力。

主权项：1.一种基于机器视觉的纳米银透明导电膜质量检测系统，其特征在于，包括：检测组划分模块，用于从目标生产批次中随机选取若干纳米银透明导电膜，并将其记为检测样品，同时将检测样品按照等比例划分为导电性能检测组、透明度检测组和平整度检测组；导电性能检测模块，用于采集导电性能检测组中各检测样品中各监测点处的方阻，同时采集各检测样品的表面图像，并从表面图像中定位出表面污垢处数目和各污垢处对应的污垢面积，分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的导电性能指数；透明度检测模块，用于采集透明度检测组中各检测样品在各可见光波长下的透射率，并采集透明度检测组中各检测样品对应的图像，并从图像中定位出图像信息，分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的透明度符合指数；数据库，用于存储目标生产批次的纳米银透明导电膜的标准方阻区间和标准透射率；平整度检测模块，用于在平整度检测组的各检测样品的表面随机布设各采样点，构建各检测样品的三维信息模型，得到各检测样品的各采样点对应的轴坐标值，分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的平整度；综合质量评估模块，用于计算目标生产批次的纳米银透明导电膜的综合质量评估指数，并当其小于设定值时，进行反馈；所述分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的导电性能指数，具体分析过程为：A1、将导电性能检测组中各检测样品中各监测点处的方阻记为，其中，表示导电性能检测组中各检测样品的编号，，表示监测点的编号，；A2、计算导电性能检测组中各检测样品的方阻均匀度，，其中，表示导电性能检测组中第个检测样品中第个监测点处的方阻，表示设定参照的方阻偏差；A3、计算导电性能检测组中各检测样品的方阻达标度；A4、基于各检测样品的表面污垢处数目和各污垢处对应的污垢面积，设定导电性能检测组中各检测样品的导电性能影响因子；A5、计算目标生产批次的纳米银透明导电膜的导电性能指数，，其中，和分别表示设定参照的方阻均匀度和方阻达标度，和分别表示设定的方阻均匀度和方阻达标度对应导电性能评估占比权重，表示导电性能检测组中检测样品数目；所述计算导电性能检测组中各检测样品的方阻达标度，具体计算过程为：B1、将导电性能检测组中各检测样品中各监测点处的方阻与数据库中存储的目标生产批次的纳米银透明导电膜的标准方阻区间进行对比，若导电性能检测组中某检测样品中某监测点处的方阻位于标准方阻区间内，则将该检测样品中该监测点记为正常监测点，统计导电性能检测组中各检测样品的正常监测点数目，记为；B2、计算导电性能检测组中各检测样品的方阻达标度，，其中，表示正常监测点占比，表示监测点数目；所述设定导电性能检测组中各检测样品的导电性能影响因子，具体设定过程为：C1、将各检测样品的表面污垢处数目记为；C2、将各检测样品的各污垢处对应的污垢面积进行累加，得到各检测样品的表面污垢面积，并记为；C3、设定导电性能检测组中各检测样品的导电性能影响因子，，其中，表示自然常数，和分别表示设定参照的表面污垢处数目和表面污垢面积，和分别表示设定的表面污垢处数目和表面污垢面积对应导电性能影响因子评估占比权重；所述图像信息包括表面图像信息和内部图像信息，其中，表面图像信息包括表面污垢处数目和各表面污垢处的污垢面积，内部图像信息包括内部气孔数目和各气孔对应的体积；所述分析目标生产批次的纳米银透明导电膜的透明度符合指数，具体分析过程为：D1、将透明度检测组中各检测样品在各可见光波长下的透射率进行均值计算，得到透明度检测组中各检测样品的平均透射率，记为，其中，表示透明度检测组中各检测样品的编号，；D2、从表面图像信息中提取表面污垢处数目和各表面污垢处的污垢面积，从内部图像信息中提取内部气孔数目和各气孔对应的体积，设定透明度检测组中各检测样品的透明度影响因子；D3、从数据库中提取目标生产批次的纳米银透明导电膜的标准透射率，并记为；D4、计算目标生产批次的纳米银透明导电膜的透明度符合指数，，其中，表示设定参照的透射率偏差，表示透明度检测组中检测样品数目；所述设定透明度检测组中各检测样品的透明度影响因子，具体设定过程为：E1、基于透明度检测组中各检测样品的表面污垢处数目和各表面污垢处的污垢面积，按照导电性能检测组中各检测样品的导电性能影响因子的设定方式同理设定透明度检测组中各检测样品对应污垢层面的影响因子；E2、基于透明度检测组中各检测样品的内部气孔数目和各气孔对应的体积，设定透明度检测组中各检测样品对应气孔层面的影响因子；E3、设定透明度检测组中各检测样品的透明度影响因子，，其中，和分别表示设定的污垢层面和气孔层面对应透明度影响因子评估占比权重。

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