买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:SK纳力世有限公司
摘要:本发明的一实施例提供一种电解铜箔,包括铜层,所述电解铜箔具有0.8至12.5的谷平均粗糙度ValleyMeanRoughness,0.49至1.28的220面的结构系数[TC220],25至51kgfmm2的抗拉强度,以及3%以下的宽度方向重量偏差。
主权项:1.一种电解铜箔,其中,包括铜层,所述电解铜箔具有:0.8至12.5的谷平均粗糙度;0.49至1.28的220面的结构系数[TC220];25至51kgfmm2的抗拉强度;以及3%以下的宽度方向重量偏差,所述宽度方向重量偏差由下述式1计算,所述谷平均粗糙度由下述式2计算,所述220面的结构系数[TC220]如下计算,即,通过在30°至95°的衍射角2θ范围内进行X射线衍射法XRD来获得具有与n个晶面相对应的峰的XRD谱图,并从该XRD谱图求得各晶面hkl的XRD衍射强度[Ihkl],求得由粉末衍射标准联合委员会JCPDS规定的标准铜粉末的n个所述晶面中的每一个的XRD衍射强度[I0hkl],求得n个所述晶面的IhklI0hkl的算术平均值,然后通过将220面的I220I0220除以所述算术平均值,由下述式3计算所述220面的结构系数[TC220],在所述X射线衍射法中,靶材为铜Kα1,2θ间距为0.01°,2θ扫描速度为3°min,所述n为4:式1宽度方向重量偏差%=重量的标准偏差重量的算术平均×100式2谷平均粗糙度VMR=[粗糙度轮廓的最大谷深Rv][表面粗糙度Ra]式3
全文数据:
权利要求:
百度查询: SK纳力世有限公司 能防止撕裂或褶皱不良的电解铜箔及其制法、包括电解铜箔的电极以及包括电极的二次电池
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。