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摘要：本发明公开了一种反射率热成像测试方法和计算机设备，所述方法采用连续波段光源为待测试器件的待测试区域提供入射光，通过热反射校准系数测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的热反射校准系数；通过反射率测试步骤获取不同波段光源下器件待测区域所有位置的反射率；通过数据处理步骤基于待测试器件所有位置的最大热反射校准系数，以及所有位置在热反射校准系数最大情况下对应波段光源下测试的反射率，计算获得待测试器件所有位置的温度数据，并将温度数据组合形成温度分布。本发明能够解决现有技术中存在的测试时间长、部分区域因材料对光源响应较差而导致温度测试结果出现极大偏离的问题，提高反射率热成像测试的效率和准确度。
主权项：1.一种反射率热成像测试方法，其特征在于，采用连续波段光源为待测试器件的待测试区域提供入射光，所述方法包括：步骤S1：将待测试器件固定在器件装载平台上，设置连续波段光源的波长范围和测试间隔，形成多个不同波段光源；步骤S2：使器件处于关断状态下，调整器件装载平台的温度为低温温度，测试不同波段光源下器件待测试区域所有位置的反射率作为低温反射率；调整器件装载平台温度为高温温度，测试不同波段光源下器件待测试区域所有位置的反射率作为高温反射率；根据不同波段光源下器件待测试区域所有位置的低温反射率和高温反射率，计算得到不同波段光源下器件待测试区域所有位置的热反射校准系数；步骤S3：调整器件装载平台温度为低温温度，加载工作信号使得器件处于工作状态下，测试不同波段光源下器件待测试区域所有位置的反射率作为工作反射率；步骤S4：从不同波段光源下器件待测试区域所有位置的热反射校准系数中，选择确定所有位置的最大热反射校准系数、以及所有位置热反射校准系数最大情况下的对应波段光源；根据所确定的所有位置热反射校准系数最大情况下对应波段的光源，选择确定所有位置在其对应波段光源下的工作反射率；根据所确定的所有位置最大热反射校准系数、以及所有位置在热反射校准系数最大情况下在对应波段光源下测试的工作反射率，获得待测试器件所有位置的温度数据，并将所述温度数据组合形成温度分布。
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百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种反射率热成像测试方法和计算机设备
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