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摘要：本公开提供IO采样方法和装置、电子设备。所述IO采样方法包括：接收IO输入信号；根据时钟周期信号对所述IO输入信号进行上升沿采样和下降沿采样以得到上升沿采样信号和下降沿采样信号；将所述上升沿采样信号和所述下降沿采样信号进行比较以得到比较结果；根据所述比较结果在已输出的上一次采样信号和当前采样信号中选择一个待输出信号，所述当前采样信号为所述上升沿采样信号或所述下降沿采样信号；以及将所述待输出信号输出作为与所述IO输入信号相对应的采样信号。本公开技术方案可以提升信号多毛刺和多抖动场景下的IO采样正确率。
主权项：1.一种IO采样方法，其特征在于，包括：接收IO输入信号；根据时钟周期信号对所述IO输入信号进行上升沿采样和下降沿采样以得到上升沿采样信号和下降沿采样信号；将所述上升沿采样信号和所述下降沿采样信号进行比较以得到比较结果；根据所述比较结果在已输出的上一次采样信号和当前采样信号中选择一个待输出信号，所述当前采样信号为所述上升沿采样信号或所述下降沿采样信号；以及将所述待输出信号输出作为与所述IO输入信号相对应的采样信号。
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百度查询： 瑞芯微电子股份有限公司 IO采样方法和装置、电子设备
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