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摘要：本发明公开了一种CsITl晶体镀膜处理方法及其在nγ射线检测中的应用。本发明使用核素闪烁体对CsITl进行处理，可以达到很高的探测效率，以此材料作为闪烁体探测器探头，可以显著提高探测器的效率。通过应用实施例我们可以清晰的观察到，进行镀膜处理的材料可以显著的探测到更多的PSD值较高的中子信号。相比于其他工艺而言，制作成本低且工艺成熟。
主权项：1.一种CsITl晶体镀膜处理方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1：CsITl种子层的制备首先将清洁的衬基置于蒸发钨舟上方的固定支架上，蒸发钨舟距离衬基的垂直距离控制在10-15厘米；在惰性气体保护下，将CsITl样品置于洁净的蒸发钨舟中，开启真空腔阀抽真空，待真空度降低至5.0×10-4-5.0×10-5Pa时开始蒸镀CsITl粉末，获得CsITl种子层；步骤2：CsITl薄膜层的制备待真空度达到1.0-5.0×10-5Pa时，开启蒸镀电源开始蒸镀，获得CsITl薄膜层；步骤3：含B或Li结晶薄膜层的制备启用另一含有LiF或BI3粉末的蒸发钨舟，待真空度降低至5.0-8.0×10-6Pa时，启动蒸镀电源，蒸镀得到含B或Li的结晶薄膜层；至此，关闭蒸镀电源，待系统冷却1-2小时后取出样品，最终得到CsITl异质结结晶薄膜。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 合肥工业大学 一种CsI(Tl)晶体镀膜处理方法及其在n/γ射线检测中的应用
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